Název:	Optické metody při studiu dielektrik
Zkratka:	OMD
Typ:	volitelný předmět specializace
Způsob ukončení:	zkouška
Garanti:	Doc. Ing. Václav Kopecký, CSc.

 
Anotace předmětu:

Předmět se zabývá vlastnostmi polarizovaného světla, jeho šířením v krystalech a jeho užitím při studiu dielektrických materiálů. Jsou probírána zvláště následující témata: polarizace, Fresnelovy rovnice, tenzor permitivity, optická indikatrix pro jednoosé a dvouosé krystaly, dvojlom, indukovaný dvojlom, elektrooptické jevy, základní metody mikroskopie, použití polarizační mikroskopie, využití kompenzátorů, konfokální mikroskopie. Dále se popisuje užití interferometrů k měření piezoelektrických a elektrooptických koeficientů. Přednášky jsou spojeny s vlastní prací v Laboratoři laserové interferometrie a polarizační mikroskopie.

 
Literatura:

[1] Saleh, B. E. A. - Teich, M.C.: Základy fotoniky I,II , MATFYZPRESS, Praha 1994-95

[2] Bouška V., Kašpar P., Speciální optické metody, Academia, Praha1983

[3] Born,M. - Wolf,E.: Principles of Optics, Pergamon Press, New York, 6.vyd. 1980

[4] Hecht E., Zajac A., Opics, Addison-Wesley Publishing Company, 1979

[5] Miroslav Šulc, Lidmila Burianová, Studium piezoelektrických dějů pomocí laserové interferometrie,
      Jemná mechanika a optika 10/01, p. 338-343

 
Prerekvizity: -

 
Datum poslední změny: 2.10.2002