Jméno a příjmení:  Ondřej Novák	Tituly:  Doc, Ing, CSc.
Rok narození:         1955	Rozsah prac. poměru:  100%
Součást školy:         katedra elektroniky a zpracování signálů FM TUL

 
Zabezpečuje předměty pro uvedené studijní programy:

- stávající magisterské (pětileté) studium

Číslicová elektronika (100%)

Diagnostika a spolehlivost (100%)

- nové bakalářské studium

Číslicová elektronika (100%)

- nové magisterské studium

Diagnostika a spolehlivost (100%)

Diplomový seminář (50%)

- doktorské studium

Diagnostika číslicových systémů

Návrh mikroelektromechanických systémů

 
Absolvovaná VŠ / obor studia / rok ukončení VŠ:
ČVUT FEL Praha / technická kybernetika / 1980

 
Údaje o praxi od ukončení vysokoškolského studia:

Od roku   do roku	Název zaměstnavatele	Odborné zaměření prac. činnosti
1980 -1989	VÚMS Praha, k. p.	Samostatný výzkumný pracovník
1989 - doposud	TU Liberec	vš. učitel

 
Údaje o působení v zahraničí :

Měsíc/rok - měsíc/rok	Stát - název instituce	Druh vykonávané činnosti
9/1987- 10/1987	Francie IMAG Grenoble	stáž
7/1992 - 12/1992	Itálie, Genova Ricerche	spolupráce v rámci Hezagonály
8/1998 – 9/1998	SRN, TU Stuttgart	řešení společného výzkumu

 
Přehled tvůrčí a publikační činnosti za posledních pět let:

Novák, O., Nosek, J. : Test Pattern Decompression Using a Scan Chain. Proc. of the 2001 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems , 24-26 October 2001, San Francisco, California. ISBN 0-7695-1203-8, s. 110-115

Springer: Lecture Notes in Computer Science 1667 Novák, O. : Pseudorandom, Weighted Random and Pseudoexhaustive Test Patterns Generated in Universal Cellular automata. pp.303-320, September 1999

Novák, O. – Nosek, J. : On Using Deterministic Test Sets in BIST. Proc. of 6th IEEE International On-Line Testing Workshop, 3-5. July, 2000, Palma de Mallorca, Spain, pp. 127-132,

Novák, O., Hlawiczka, A. Garbolino, T, Guczwa, K. Plíva, Z. Nosek, J,: Low Hardware Overhead Deterministic Logic BIST with Zero-Aliasing Compactor. Proc. IEEE DDECS conf. Györ, Maďarsko, duben 2001, s.: 29-35,

Novák, O., Nosek, J. : Test-per-Clock Testing of the Circuits with Scan , Proc. of 7th IEEE International On-Line Testing Workshop, July 2001, Taormina, Italy, s. 90-92, 9

 
Anotace nejvýznamnějších publikací, projektů, děl a realizovaných výsledků
za dobu vědecké, výzkumné, vývojové, umělecké nebo další tvůrčí činnosti:

Příspěvek na sympósiu, týkajícího se odolnodti obvodů proti poruchám. Popisuje poslední vědecké výsledky.

Článek, shrnující výzkumnou činnost za předchozí období, jehož hlavní části byly předneseny na IEEE EDCC.

Příspěvek na mezinárodním workshopu IEEE, zabývající se možnostmi využití výsledků vlastního výzkumu v On-line diagnostice.

Příspěvek popisuje výsledky mezinárodní spolupráce ve výzkumu generátorů testovacích vzorků.

Příspěvek na mezinárodním workshopu IEEE se zabývá nově navrženými metodami vestavěné diagnostiky

 

Nejvyšší akademický titul či věd. hodnost:	CSc.
Obor (habilitace, jmenovacího řízení či disertace):	Výpočetní technika
Pracoviště a rok, kde byl titul získán:	FEL ČVUT Praha, 1993

 
Ohlasy tvůrčí práce:

celkem 13 zahraničních či domácích citací

Datum poslední změny: 23. 1. 2002