doc. RNDr. Karel Žídek, Ph.D.

doc. RNDr. Karel Žídek, Ph.D.
Ústav nových technologií a aplikované informatiky (NTI): člen katedry

E-mail:: karel.zidek@tul.cz
Tel.:: +420 48535

Publikace

LUKEŠ, J. aj. Sensitive detection of Si3N4 thin-film defects via second harmonic generation microscopy Optics Letters Optica Publishing Group, 2025 S. 1885. ISSN: 0146-9592.
MILLER, V. a ŽÍDEK, K. Visualization techniques for assessing inhomogeneities and stress in Ti:sapphire crystals Optical Materials Express (2159-3930) Optica Publishing Group, 2025, roč. 15, č. 4. S. 644 – 660. ISSN: 2159-3930.
LUKEŠ, J. aj. Damage detection in thin films using second harmonic generation Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering SPIE, 2024 S. neuvedeny (3 stranky). ISBN: 978-151067358-8, ISSN: 0277-786X.
KLEIN, L. a ŽÍDEK, K. Spatial modulations testing in a hyperspectral single-pixel microscopy UNCONVENTIONAL OPTICAL IMAGING IV SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 2024 S. neuvedeny (4 stranky). ISSN: 0277-786X.
MILLER, V. a ŽÍDEK, K. Visualization of inhomogeneities in Ti:Sapphire laser medium EOS ANNUAL MEETING, EOSAM 2024 E D P SCIENCES, 2024 S. neuvedeny (2 stranky). ISSN: 2100-014X.
všechny publikace
MACH, M., PSOTA, P., ŽÍDEK, K. a MOKRÝ, P. Compact lensless Fizeau holographic interferometry for imaging domain patterns in ferroelectric single crystals Applied Optics OPTICA, 2023, roč. 62, č. 10. S. 2522 – 2530. ISSN: 1559-128X.
LUKEŠ, J. a ŽÍDEK, K. Heat-Induced Variation of Second-Harmonic Generation in Silicon Oxynitride Thin Films, 2023
MILLER, V. a ŽÍDEK, K. High-precision FoM measurement setup for Ti:sapphire crystals Applied Optics Optica, 2023, roč. 62, č. 5. S. 1345 – 1350. ISSN: 1559-128X.
JUNEK, J. a ŽÍDEK, K. Nanosecond compressive fluorescence lifetime microscopy imaging via the RATS method with a direct reconstruction of lifetime maps Optics Express WASHINGTON: OPTICA publishing group, 2023, roč. 31, č. 4. S. 5181 – 5199. ISSN: 1094-4087.
MACH, M., PSOTA, P., ŽÍDEK, K. a MOKRÝ, P. On-chip digital holographic interferometry for measuring wavefront deformation in transparent samples OPTICS EXPRESS Optica, 2023, roč. 31, č. 11. S. 17185 – 17200. ISSN: 1094-4087.
LUKEŠ, J. aj. Optically modified second harmonic generation in silicon oxynitride thin films via local layer heating Scientific Reports BERLIN: Springer Science and Business Media LLC, 2023, roč. 13, č. 1. S. neuvedeny (8 stran). ISSN: 2045-2322.
KLEIN, L., TOUŠ, J. a ŽÍDEK, K. Spatially Encoded Compressive Microscope for Ultrabroadband VIS/NIR/SWIR Hyperspectral Imaging 2023 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC)., 2023S. ISBN: 979-8-3503-4599-5, ISSN: 2833-1052.
KLEIN, L., TOUŠ, J. a ŽÍDEK, K. Spatially encoded hyperspectral compressive microscope for ultrabroadband VIS/NIR hyperspectral imaging Applied Optics WASHINGTON: Optica Publishing Group, 2023, roč. 62, č. 15. S. 4030 – 4039. ISSN: 1559-128X.
HLUBUČEK, J., LUKEŠ, J., VÁCLAVÍK, J. a ŽÍDEK, K. Differential coded aperture single-snapshot spectral imaging Optics Letters WASHINGTON: Optica Publishing Group, 2022, roč. 47, č. 9. S. 2342 – 2345. ISSN: 0146-9592.
JUNEK, J. a ŽÍDEK, K. Noise effect on 2D photoluminescence decay analysis using the RATS method in a single-pixel camera configuration OPTICS EXPRESS OPTICAL SOC AMER, 2022, roč. 30, č. 8. S. 12654 – 12669. ISSN: 1094-4087.
KLEIN, L., ŽÍDEK, K., KRISTOFFERSEN, A. S. a TOUŠ, J. Versatile compressive microscope for hyperspectral transmission and fluorescence lifetime imaging OPTICS EXPRESS Optica Publishing Group, 2022, roč. 30, č. 9. S. 15708 – 15720. ISSN: 1094-4087.
DAS, N., KANCLÍŘ, V., MOKRÝ, P. a ŽÍDEK, K. Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering Journal of Optics (United Kingdom) 1. vyd. IOP PUBLISHING LTD, 2021, roč. 23, č. 2. S. neuvedeny (6 stran). ISSN: 2040-8978.
JUNEK, J. a ŽÍDEK, K. Fluorescence Lifetime Imaging Via Spatio-temporal Speckle Patterns in a Single-pixel Camera Configuration OPTICS EXPRESS 1. vyd. OPTICAL SOC AMER, 2021, roč. 29, č. 4. S. 5538 – 5551. ISSN: 1094-4087.
HLUBUČEK, J., LUKEŠ, J. a ŽÍDEK, K. Improving Compression Ratio in CASSI Optics InfoBase Conference Papers (ISBN: 978-1-943580-89-7) The Optical Society, 2021 S. neuvedeny (2 stranky). ISBN: 978-155752820-9, ISSN: 2162-2701.
JUNEK, J. a ŽÍDEK, K. Noise Effect to Data Acquisition Time in FLIM via RATS Method Using Single-Pixel Camera Configuration Optics InfoBase Conference Papers The Optical Society, 2021 S. neuvedeny (2 stranky). ISBN: 978-155752820-9.
KANCLÍŘ, V., ŽÍDEK, K. a VÁCLAVÍK, J. Precision of Silicon Oxynitride Refractive-Index Profile Retrieval Using Optical Characterization Acta Physica Polonica A 1. vyd. Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, 2021, roč. 140, č. 3. S. 215 – 221. ISSN: 0587-4246.
JUNEK, J. a ŽÍDEK, K. FLIM via RATS Method Using Single Pixel Camera Optics InfoBase Conference Papers 1. vyd. The Optical Society, 2020 S. neuvedeny (2 stranky). ISBN: 978-155752820-9.
JUNEK, J., ONDIČ, L. a ŽÍDEK, K. Random Temporal Laser Speckles for the Robust Measurement of Sub-microsecond Photoluminescence Decay OPTICS EXPRESS 1. vyd. WASHINGTON: OPTICAL SOC AMER, 2020, roč. 28, č. 8. S. 12363 – 12372. ISSN: 1094-4087.
JUNEK, J. a ŽÍDEK, K. Luminescence Decay Measurement Via Temporal Speckles Optics InfoBase Conference Papers 1. vyd. Optical Society of America, 2019 S. neuvedeny (2 stranky). ISBN: 978-155752820-9.

Témata studentských prací

Správa studentských prací a projektů

Zobrazit všechny zaměstnance Spolupracovníci na NTI

doc. RNDr. Karel Žídek, Ph.D.

Filtr pro zobrazení novinek a událostí