LUKEŠ, J. aj. Sensitive detection of Si3N4 thin-film defects via second harmonic generation microscopy Optics Letters Optica Publishing Group, 2025, roč. 50, č. 6. S. 1885 – 1888. ISSN: 0146-9592.
LUKEŠ, J., KANCLÍŘ, V. a ŽÍDEK, K. Thin film interface and bulk characterization via second harmonic generation Optical Interference Coatings Oic 2025 in Proceedings Optica Oic Optical Interference Coatings Conference 2025 Optica Publishing Group, 2025 S. WD.4. ISBN: 978-195717144-9.
LUKEŠ, J. aj. Damage detection in thin films using second harmonic generation Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering SPIE, 2024 S. neuvedeny (3 stranky). ISBN: 978-151067358-8, ISSN: 0277-786X.
LUKEŠ, J. aj. Optically modified second harmonic generation in silicon oxynitride thin films via local layer heating Scientific Reports BERLIN: Springer Science and Business Media LLC, 2023, roč. 13, č. 1. S. neuvedeny (8 stran). ISSN: 2045-2322.
DAS, N., KANCLÍŘ, V., MOKRÝ, P. a ŽÍDEK, K. Bulk and interface second harmonic generation in the Si3N4 thin films deposited via ion beam sputtering Journal of Optics (United Kingdom) 1. vyd. IOP PUBLISHING LTD, 2021, roč. 23, č. 2. S. neuvedeny (6 stran). ISSN: 2040-8978.
KANCLÍŘ, V., ŽÍDEK, K. a VÁCLAVÍK, J. Precision of Silicon Oxynitride Refractive-Index Profile Retrieval Using Optical Characterization Acta Physica Polonica A 1. vyd. Institute of Physics, Polish Academy of Sciences, 2021, roč. 140, č. 3. S. 215 – 221. ISSN: 0587-4246.
Fakulta mechatroniky, informatiky a mezioborových studií Technické univerzity v Liberci Studentská 1402/2 461 17 Liberec 1 Tel: +420 485 351 111
Mapa stránek
Zůstaňte v kontaktu
Univerzitní časopisy
Filtr pro zobrazení novinek a událostí
Pro větší přehlednost si můžete zvolit, které novinky a události se Vám budou zobrazovat.